摘要：Fabry-Perot(F-P)干涉仪是光学领域最常用的光学器件之一，其广泛应用于精细光谱检测，特别是在光学器件的稳频、激光的锁频和鉴频等方面发挥着尤为重要的作用。然而，实际的F-P干涉仪的频谱特性由于各种因素的影响，不能再用理想公式来描述。本文首先介绍F-P干涉仪在理想条件下的工作原理及特性参数。然后深入分析了入射光束发散角、入射角、频率谱线、光强分布、干涉仪吸收损耗、平板表面缺陷和平板不平行度等因素对F-P干涉仪的频谱特性的影响，导出了各种因素综合影响下，F-P干涉仪频谱的理论表达式，并进行深入的理论分析和实验仿真，得出一系列重要结论。此外，针对更高光谱分辨率要求的实际应用，进一步讨论了双级联F-P干涉仪的频谱特性。这些结论可为F-P干涉仪的设计和实际应用提供理论支撑。

关键词：F-P干涉仪；光束发散角；频谱；损耗；表面缺陷；不平行度；光束入射角；光强分布

目录

摘要

Abstract

1 绪  论-1

1.1 课题的研究背景和意义-1

1.2 实际存在的问题和本论文的主要工作-1

2 F-P干涉仪的基本工作原理及特性参数-2

2.1 工作原理-2

2.2 特性参数-4

3 影响F-P干涉仪频谱特性的因素-6

3.1 入射光束发散角-6

3.2 入射光频率谱线-7

3.3 干涉仪平板吸收损耗-7

3.4 干涉仪平板的表面缺陷（不平整度）-7

3.5 干涉仪两平板不平行度-8

3.6 光束入射角-9

3.7 入射光束光强分布-10

4 多因素影响下F-P干涉仪频谱分析及仿真-12

4.1 理论分析-12

4.2 仿真实验-12

4.3 频率测量误差-16

5 双级联F-P干涉仪频谱特性分析-18

6 总  结-20

参考文献-21

附    录-23

致    谢-25