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摘要 本文主要报告了材料的单晶制备方法及其物性测量。通过气相输运法来制备高纯度的单晶样品，然后再测量该样品的磁化强度，并进行结构表征与分析。
Abstract
目录
摘要 1
1、绪论 1
1.1霍尔效应 1
1.1.1反常霍尔效应 1
1.1.2霍尔效应的量子化 1
1.2自旋轨道耦合SOC 2
1.2.1 Rashb类型和Dressalhaus类型 3
1.3半金属 3
1.3.1半金属简介 3
1.4拓扑半金属 3
1.4.1拓扑半金属简介 3
1.5 材料的研究背景 3
1.5.1研究背景 3
2、样品单晶的制备及测量方法介绍 8
2.1样品单晶的制备 8
2.1.1 单晶制备的实验材料 8
2.1.2 单晶的制备方法 8
2.2样品测量方法 9
2.2.1电阻率测量 9
2.2.2磁化强度测量 10
3、材料的单晶物性测量 11
3.1晶体结构分析 11
3.1.1 EDX能谱 11
3.1.2 XRD衍射 11
3.2磁化率研究 12
3.3本章小结 12
4、总结与展望 13
参考文献 14
致谢 15 |
