摘要：随着科学技术的发展和数据采集系统的广泛应用，人们对数据的采集传输系统的主要指标，如采样速率，分辨率和精度等方面，都提出了越来越高的要求，CCD作为一种应用广泛的新型半导体光电器件，驱动时序电路的实现是其应用的关键问题， 物体几何尺寸的精密测量在检测技术中是一个应用十分普遍且有实际应用价值的问题。利用CCD测量具有无接触、准确度高、便于计算机处理，易于和自动控制设备连接等优点。用面阵CCD摄像头与图像数据采集系统测量实际物体外形尺寸是CCD应用最广泛的领域， 本文介绍了面阵CCD对曝光量的线性响应范围, 并提出了部分扩大测量线性范围的方法。

关键词： CCD；线性响应；测量

目录

摘要

Abstract

1 引言-1

2 光电成像原理-2

2.1摄像机的基本工作原理-3

2.2图像的分割与扫描-3

3 电荷耦合器件-4

3.1 CCD基本工作原理-5

3.2、CCD驱动电路-6

3.3 CCD物理特性-6

3.3.1 信号处理能力-6

3.3.2 转移效率-6

3.3.3 存贮时间-7

3.4面阵CCD-7

3.4.1帧转移面阵CCD-7

3.4.2隔列转移型面阵CCD-8

3.4.3线阵转移型面阵CCD-9

4 面阵CCD线性测量的研究-10

4.1原理-10

4.2测量系统组成-11

4.3 实验-11

4.3.1光照度测量-11

4.3. 2暗电流测量-11

4.3.3 CCD响应测量-12

4.4数据处理-12

4.5 分析-12

4.6 解决办法-12

5参考文献-13